温度对于ASD光谱仪分析有什么影响？

　　ASD光谱仪分析主要用于在现场进行环境土壤和沉积物筛选。该仪器可快速执行大量分析并完成测试程序，有助于大幅度降低对实验室分析的需求以及相关的成本。符合人体工程学的流线型机身，处理器与仪器一体化设计，IP54防尘防水。
 

　　ASD光谱仪分析用于在整个行业范围内验证镀层的厚度和成分。可在针对管材、阀门、焊缝、部件和压力容器的PMI应用中，进行快速、精确的化学成份和合金成份的辨别。其基本的无损性质，加上快速测量和结构紧凑的台式仪器等优点，能实现现场分析并立即得到结果。
 

　　XRF指X射线荧光，是一种识别样品中元素类型和数量的技术。对于镀层分析，仪器将此信息转换为厚度测量值。
 

　　那么温度对于ASD光谱仪分析有什么影响？接下来我们一起来看看吧。
 

　　属于精密测量仪器，光学系统微小的变化(如结构件的热胀冷缩等)即会引起很大的测量误差，因此光谱仪在设计时会对光学系统进行恒温控制。但即使如此，外界温度的变化仍会影响恒温系统的热平衡状态，引起测量误差，因此为了保证测量结果的精密度，应尽可能减小使用过程中环境温度的波动，大不应超过5℃。
 

　　另外，厂家对仪器的使用温度都有严格的限制，一般在10-30℃之间。首先是因为仪器在工厂校准时的温度在20℃左右，10-30℃内使用可以获得较好的测量精度，其次仪器的部件及设计在10-30℃范围内具有更高的可靠性，超出该温度范围使用，会引起可靠性下降，严重的还会引起仪器故障；另外，光谱仪一般把光室的温度控制在34~38℃之间的某个温度点(不同型号仪器恒温温度不同)，为了确保光谱仪的恒温控制正常工作，仪器使用的环境温度必须与光谱仪恒温温度有一定的温差，因此要求仪器使用环境温度低于30℃。
 

　　因此，在使用过程中应严格控制环境温度，配备足够功率的空调系统。